物理系低维量子材料与扫描探针显微学课题组

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· 12/2024 19日，由Park原子力显微镜主办、程志海课题组博士生米烁主讲的讲座《基于开尔文探针力显微镜（KPFM）的二维材料表面电学性质的研究》在线上顺利举办。讲座主要介绍了开尔文探针力显微镜（KPFM）技术及其在二维材料表面电学性质研究中的应用。KPFM作为原子力显微镜的一种功能化模式，能够定量测量局部表面电势分布，并获取样品的功函数信息。研究团队利用KPFM技术对SiO2表面、MoS2/SiO2界面的电荷转移和扩散行为、MoS2的应变诱导结构及性质，以及转角双层石墨烯（tBLG）的转角相关功函数等进行了系统研究。这些研究展示了KPFM在精确测量二维材料表面电学性质方面的能力，为新型电子器件的设计和开发提供了重要实验依据，并深化了对材料表面电势分布的理解，推动了电子元件和能源器件等领域的研究进展。

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