Ambient Multifunctional Atomic Force Microscope (AFM) (Park System NX10)

大气环境多功能原子力显微镜（主要用于微纳米尺度形貌、力/电/磁等物性的局域测量表征）

除常规成像模式外，具有开尔文显微术、多频静电力显微术、压电力显微术、导电原子力显微术、扫描微波显微术等多种高级功能，特别是本课题组自主发展的一些先进模式，可以用于一些特殊功能成像。

UHV Variable-Temperature Scanning Probe Microscope (SPM) (RHK,     PanScan Cryogen-Free LT-STM/AFM) (STM, qPlus-STM/AFM; Atomic Structures and Properties)

超高真空变温扫描探针显微镜（无液氦干式制冷，主要用于原子尺度结构、电子态等的研究）

除常规STM成像外，还具有扫描隧道谱、qPlus-AFM等功能；系统具有精细可控变温功能，非常适用于量子材料的相变研究。

Variable-Temperature and High Magnetic-Field Closed-Cycle Atomic Force Microscope (AFM) (Attocube Systems, AttoDry2100) (Under Construction)

强磁场变温原子力探针显微镜（主要用于低维量子材料物性的微纳米尺度研究）

除常规成像外，具有磁力显微术、静电力显微术、导电原子力显微术、压电力显微术等。系统具有可控变温和可调磁场功能，适用于量子材料体系研究。

Home-Bulit UHV Molecular Beam Epitaxy System (MBE, RHEED, RGA, K-Cells, EBV)   (2D Materials, Low-Dimensional Quantum Functional Materials)

自主合作搭建的超高真空分子束外延系统（主要用于二维层状材料、低维量子功能材料等的生长制备及其物性调控）

具有一个电子束蒸发源、四个K-cell蒸发源，具有RGA、RHEED等检测设备，配备小型真空样品转移腔。

Oscilloscope (MDO3024, Tektronix): 4 channels, 200MHz, 5GS/s, Spectrum Analyzer, Arbitary Function Generator, Digital Voltage Meter; Multimeter (F287C, Fluke): Normal electrical measurement; Optical Microscope (LV150N, Nikon): Sample observing and imaging; Dynamic Signal Analyzer (MFLI, Zurich Instruments): Lock-in Amplifier, Ultra-high Stability, Multi-frequency, AM/FM Modulation, Phase-locked Loop, Quad-PID, HF2TA Current Amplifier; ......